Image SXM är en version av NIH Image Public Domain Image Analysis Software, som har utökats för att hantera laddning, visning och analys av skanningsmikroskopbilder. Image SXM stöder SAM, SCM, SEM, SFM, SLM, SNOM, SPM och STM bilder från följande system: Asylforskning, Burleigh Instruments, Digital Instruments NanoScope II-III-IV, DME Rasterscope, DME Surface Data File, Gatan DigitalMicrograph, JEOL JSM, JEOL WinSem, JEOL WinSPM, JPK Instruments, Klocke Nanotechnik Atomikro, Leica LIF, Leica TCS, LEO SEM, Molekylär Imaging PicoScan, NanoMagnetics Instruments SPMSIF, Nanonics Imaging, Nanonis, Nanosurf EasyScan, Nanotec Electronica WSxM, Noran Instruments Vantage, NT -MDT, Omicron Vakuumphysik, Omicron SCALA, Oxford Instrument TOPSystem, Park Scientific Instruments HFS-LIF, Park Scientific Instruments HDF, Philips SEM, Quesant Instruments, RHK Teknologi SPM-32, RHK Teknologi XPM Pro, Seiko Instrument (SIINT) SPI, SPECS STM Aarhus, ThermoMicroscopes, TopoMetrix SPMLab, Unisoku, Vakuum Generatorer SAM, Veeco Innova, WA Teknologi, Zeiss AxioVision, Zeiss LSM.
Vad är nytt i den här utgåvan:
- Begränsa avkastningen till kraft-2-storlekar så att FFT-operationer fungerar nu genom att trycka på flikknappen
- Ändringar i analysen av bakteriella mikrokomponenter
Vad är nytt i version 197:
- Begränsa avkastningen till kraft-2-storlekar så att FFT-operationer fungerar nu genom att trycka på flikknappen
- Ändringar i analysen av bakteriella mikrokomponenter
Kommentarer hittades inte